Поделиться
В России создается новый математический метод проверки микросхем на надежность
Минпромторг заказал разработку математического метода определения надежности электронной компонентной базы. Новый способ позволит сократить время и затраты на оценку ее надежности. Впоследствии метод будут использовать российские разработчики и производители интегральных микросхем и полупроводниковых приборов.
Ускоренная оценка надежности ЭКБ
Как выяснил CNews, в России разрабатывают новый метод оценки надежности интегральных микросхем и полупроводниковых приборов специального и общего назначения с помощью математического метода прогнозирования. Минпромторг выделил на эти цели 464,8 млн руб.
Цель разработки нового метода состоит в сокращении временных, материальных и финансовых затрат на оценку надежности электронной компонентной базы (ЭКБ). Это необходимо для решения задач импортозамещения и технологической независимости России, следует из технического задания к исследовательской работе.
Результаты работы предназначены для использования в процессе испытаний новых и серийных изделий микроэлектроники и полупроводниковой техники в организациях разработчиках и производителях интегральных микросхем и полупроводниковых приборов.
Тендер на разработку нового метода оценки надежности ЭКБ был размещен 30 июня 2023 г. Контракт на выполнение научно-исследовательских работ между Минпромторгом и Всероссийским научно-исследовательским институтом радиоэлектроники (ВНИИР) был заключен 4 августа (цена его была снижена до 450,9 млн руб.).
Каким образом
В рамках работ ВНИИР должен проанализировать существующие методы оценки надежности ЭКБ на основе отечественных и зарубежных источников, в том числе с применением методов статистического прогнозирования тренда технических параметров изделий.
Институт, в том числе, определит «наиболее представительные группы интегральных микросхем и полупроводниковых приборов для разработки новых методов определения надежности и разработает топологию тестовых опытных образцов на основе перспективных технологий изготовления интегральных микросхем и полупроводниковых приборов с учетом анализа возможных механизмов отказов. Согласно тендерной документации, опытные образцы будут впоследствии исследованы с помощью рентгеновский томографа и растрового микроскопа.
В результате ВНИИР разработает проекты типовых методик проведения ускоренных испытаний, стандарт организации по оценке надежности, а также рекомендации по изменениям в госстандарты в части оценки надежности интегральных микросхем и полупроводниковых приборов специального и общего назначения ускоренными методами с применением статистических методов прогнозирования.
Проводимые исследования должны базироваться на новейших российских и мировых достижениях в области исследований надежности, теории вероятностей, математической статистики и разработки изделий микроэлектроники, следует из техзадания.
Почему это так важно
Надежность ЭКБ и созданной с ее использованием радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) необходима для длительного функционирования космических аппаратов при запрете поставок высоконадежной ЭКБ, для безопасности полетов гражданской авиации при переходе на отечественные средства авионики, а также для безопасности применения отечественных систем управления движением на железнодорожном и морском транспорте, отмечается в техзадании.
Помимо этого, надежность ЭКБ необходима для безаварийного применения беспилотных транспортных средств на основе создаваемых отечественных систем управления и необходимой доступности объектов критической информационной инфраструктуры (КИИ).
«Решение перечисленных вопросов становится особенно актуальным в условиях обострения политических и экономических противоречий между Россией и недружественными странами», — отмечается в техническом задании.
Короткая ссылка
