Электроника - Фотолитография - Extreme Ultraviolet Lithography, EUV, EUVL - FinFet EUV-литография - Deep Ultraviolet, DUV - Фотолитография в глубоком ультрафиолете - Optical Proximity Correction - Коррекция оптической близости
+
Метрология - Нанометрология - Nanometrology - Нанометр

* Страница-профиль компании, системы (продукта или услуги), технологии, персоны и т.п. создается редактором на основе анализа архива публикаций портала CNews. Обрабатываются тексты всех редакционных разделов (новости, включая "Главные новости", статьи, аналитические обзоры рынков, интервью, а также содержание партнёрских проектов). Таким образом, чем больше публикаций на CNews было с именем компании или продукта/услуги, тем более информативен профиль. Профиль может быть дополнен (обогащен) дополнительной информацией, в т.ч. презентацией о компании или продукте/услуге.

Обработан архив публикаций портала CNews.ru c 11.1998 до 02.2026 годы.
Ключевых фраз выявлено - 1417754, в очереди разбора - 726944.
Создано именных указателей - 190230.
Редакция Индексной книги CNews - book@cnews.ru

Читатели CNews — это руководители и сотрудники одной из самых успешных отраслей российской экономики: индустрии информационных технологий. Ядро аудитории составляют топ-менеджеры и технические специалисты департаментов информатизации федеральных и региональных органов государственной власти, банков, промышленных компаний, розничных сетей, а также руководители и сотрудники компаний-поставщиков информационных технологий и услуг связи.